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2003年11月21日 | |
| アドバンテスト、処理性能4倍増の新型メモリ・テスタを発売 | |
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アドバンテストは2003年11月21日、汎用メモリの前工程試験、フラッシュ・メモリの後工程試験用の新型メモリ・テスタ「T5377」を開発、販売を開始したことを発表した。同装置は143MHz／2586MHzという高速テスト時でも、従来比最大4倍となる256個同時測定を実現している。また、不良情報の記憶容量を従来比6倍の131GBに拡大、2GBのDRAM、4GBのフラッシュ・メモリなど大容量メモリの不良解析に対応している。 | |
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